Наименование: Цифровой оптический 3D-микроскоп Hirox KH-7700

Назначение: получение оцифрованных оптических изображений объектов и выполнения измерений по трем координатам.

Характеристики:

• бесконтактные измерения по трем осям;
• оптическое увеличение до 7000х;
• синтез и сравнение изображений;
• запись потокового видео (30 кадров в секунду);
• 3D-обзор (360°) с изменяемым углом наблюдения от 25° до 55°;
• инспекция при изменяемых углах освещения, при дифференциально-интерференционном контрасте, темном и светлом поле, в поляризованном свете;
• послойное фотографирование с последующим cинтезом слоев для получения сфокусированного изображения глубокого рельефа (3D-реконструкция);
• автоматизация фокусировки, мультифокусировки, послойного сканирования и измерения высоты;
• возможность маркировки групп объектов на «живом» и/или захваченном изображении (до 16-ти групп).

Производитель: HIROX, Япония.

Год выпуска: 2008.

Наименование: Сканирующий электронный микроскоп VEGA 3 LMH с системой рентгеновского  энергодисперсионного  микроанализа  Oxford Instruments  INCA Energy 250/X-max 20

Назначение: изучение структурно-текстурных особенностей и химического состава неорганических веществ (минералов и горных пород).

Характеристики:

Производитель:  TESCAN, Czech Republic

Год выпуска: 2011.

Наименование: Прибор термомеханического и дифференциального термического анализа ТМА/SDTA841

Назначение: изучение свойств материала на основе данных об изменении линейных размеров в зависимости от температуры, предназначен для определения КЛТР, температуры начала размягчения, температуры стеклования, теплостойкости.

Характеристики:

• диапазон температур исследования от – 150 °С до + 600 °С;
• точность измерения температуры 0.5 град,  диапазон измеряемых смещений +/- 5 мм, разрешение 0.6 нм;
• диапазон нагрузок  -0,1…1,0 н.

Производитель: Mettler Toledo, Швейцария

Год выпуска: 2008.

Наименование: Прибор совмещенного термогравиметрического анализа и дифференциальной сканирующей калориметрии TGA/DSC 1/ 1100 LF

Назначение: качественная оценка термостойкости, количественного определения кинетических параметров процесса термодеструкции.

Характеристики:

Прибор оборудован встроенными высокоточными  ультра-микровесами Mettler Toledo с пределом взвешивания до 5 г с дискретностью 0,1 мкг и уникальным двухканальным датчиком с шестью термопарами для увеличения чувствительности измеряемого сигнала.

Производитель: Mettler Toledo, Швейцария

Год выпуска: 2007.

Наименование: Дифференциально-сканирующий калориметр DSC 882е/700

Назначение: Изучение свойств материала на основе измерения тепловых потоков в зависимости от времени и температуры, предназначен для количественных измерений при исследовании релаксационных и фазовых переходов, кинетики полимеризации.

Характеристики:

• прибор оборудован инфракрасным микроскопом HYPERION 1000 и модулем
• диапазон температур исследования  от – 150 °С до + 700 °С в динамическом и изотермическом режиме;
• скорости нагрева от 0,01 до 300 град в мин.;
• величина тепловых эффектов +/- 350 мВт;
• разрешение сигнала ДСК 0,01/0,04 мкВт;
• количество термопар 56;
• цифровое разрешение: 16,8 миллионов точек.

Производитель: Mettler Toledo, Швейцария

Год выпуска: 2006.

Наименование: ИК-Фурье-спектрометр Vertex 80V

Назначение: Метод основан на регистрации колебательных спектров молекул, что дает детальную информацию о состоянии молекул или функциональных групп в исследуемом образце. Обработку спектров проводят с помощью пакета прикладных программ ОРUS.

Характеристики:

• прибор оборудован инфракрасным микроскопом HYPERION 1000 и модулем отражения (НПВО с алмазным кристаллом однократного отражения на платформе QuickLock);
• базовый спектральный диапазон 7500-370см^-1, базовое спектральное разрешение 0,2см^-1;
• погрешность длины волны – 0.01см^-1;
• светоделитель – KBr;
• детектор – RT-DLaTGS;
• лазер класса 2 с углом расхождения: 0.2мрад;
• интерферометр UltraScan cвоздушным подшипником;
• рабочая температура 18-35^оС;
• вакуум 5мбар.

Производитель: Bruker, Германия

Год выпуска: 2006.

Наименование: КР-Фурье-спектрометр Senterra.

Назначение: метод колебательной спектроскопии, позволяющий качественно определять структуру органических и неорганических соединений, материалов, анализировать наличие добавок.

Характеристики:

• спектральное разрешение 3см^-1;
• спектральный диапазон 785 нм: 90-3200 см^-1, 532нм: 80-4500 см^-1;
• стабильность < 0.1 см^-1RMS;
• дифракционная решетка: высокого и низкого разрешения.

Производитель:  Bruker, Германия

Год выпуска: 2009.

Наименование: ИК-Фурье-спектрометр IFS66/S

Назначение: метод колебательной спектроскопии, позволяющий качественно определять структуру органических и неорганических соединений, материалов, анализировать наличие добавок.

Характеристики:

• рабочий вакуум – 3мбар;
• частотный диапазон – 7500-350см^-1;
• разрешение – 0.25см^-1.

Производитель:  Bruker, Германия

Год выпуска: 1999.

Наименование: Тензиометр автоматический Sigma 701 в комплекте

Назначение: измерение объемных и поверхностных свойств жидкостей, контактного угла смачивания пористых сред, твердых тел и порошков.

Характеристики:

Виды измерений:

- измерение поверхностного и межфазного натяжения;

- измерения силы втягивания кольца Дю Нуа;

- непрерывные измерения поверхностного натяжения методом втягивающейся пластинки Вильгельми;

- определение критической концентрации мицеллообразования (CMC);

- измерение динамических контактных углов (DCA);

- определение смачиваемости порошков и пористых тел;

- измерение поверхностной свободной энергии твердых тел;

- измерение плотности жидкостей;

- определение кинетики седиментации.

Производитель:  KSV Instruments LTD, Финляндия

Год выпуска: 2009.

Свидетельство поверки: № 71083 от 07.08.2009.

Наименование: Спектральный эллипсометрический комплекс ЭЛЛИПС-1891 САГ

Назначение: измерение спектральных зависимостей оптических параметров поверхностных структур, определение оптических и структурных свойств материалов и толщин тонкопленочных слоев.

Характеристики:

• принцип работы основан на анализе амплитудных и фазовых изменений световой волны при ее взаимодействии с исследуемым объектом;
• спектральный диапазон — 350…1100 нм.

Производитель:  НПК «Центр нанотехнологий», Россия

Год выпуска: 2008.